1、GM型應在(zai)特定時間(jian)段(duan)的允(yun)許時間(jian)差范圍內，盡快地讀取測(ce)量(liang)值。為使測(ce)量(liang)誤差不高(gao)于(yu)±5%，讀取R60S的時間(jian)允(yun)許誤差±3S，而讀取15S的時間(jian)不應相差±1S。
2、高壓測(ce)(ce)試電(dian)源(yuan)非理想電(dian)壓源(yuan)，重負荷（被測(ce)(ce)試品絕緣電(dian)阻(zu)值(zhi)小）時(shi)，輸(shu)出電(dian)壓低(di)于其額定值(zhi)，這將導致單支路直讀測(ce)(ce)量法兆(zhao)歐(ou)表(biao)測(ce)(ce)量準確度因轉換系(xi)數的改(gai)變而降低(di)。這種改(gai)變因兆(zhao)歐(ou)表(biao)測(ce)(ce)試電(dian)源(yuan)負荷特(te)性(xing)不同而異。
3、不(bu)同(tong)動態(tai)測(ce)試容量(liang)指標(biao)的(de)兆歐表，試驗電(dian)壓在試品上（及(ji)采樣電(dian)阻(zu)上）的(de)建立過(guo)程與對試品的(de)充(chong)電(dian)能力均存在差異，測(ce)量(liang)結果(guo)也會(hui)不(bu)同(tong)，使用(yong)低于動態(tai)測(ce)試容量(liang)指標(biao)門限(xian)值的(de)兆歐表測(ce)量(liang)時，由于儀(yi)表存在慣性網絡(luo)（包(bao)括(kuo)指針(zhen)式儀(yi)表的(de)機械(xie)慣性）導致(zhi)示值響應速度(du)較慢(man)，來不(bu)及(ji)正(zheng)確反映試品實在絕緣電(dian)阻(zu)值隨時間的(de)變化規律(lv)，尤其是(shi)在測(ce)試的(de)起始(shi)階段，電(dian)容充(chong)電(dian)電(dian)流未(wei)*衰減為零，更會(hui)使R15S和吸收(shou)比讀(du)測(ce)值產(chan)生較大(da)誤差（偏小）。
4、試(shi)(shi)品(pin)絕緣介質極化(hua)狀(zhuang)況(kuang)與(yu)外加(jia)試(shi)(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)大(da)小有關。由于試(shi)(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)不能迅速達(da)到額定值(zhi)，或因兆歐表測(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)源負荷特(te)性不同(tong)導致施加(jia)于試(shi)(shi)品(pin)上試(shi)(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)的(de)差異(yi)，使(shi)試(shi)(shi)品(pin)初始極化(hua)狀(zhuang)況(kuang)不同(tong)，導致吸收電(dian)(dian)流(liu)不同(tong)，使(shi)緣電(dian)(dian)阻測(ce)量的(de)示值(zhi)不同(tong)。
5、國外某些(xie)兆(zhao)歐表(biao)(biao)的(de)試(shi)驗高(gao)電(dian)壓(ya)連續可(ke)調，開機(ji)后(hou)先由零(ling)調節至(zhi)額定(ding)(ding)(ding)值(zhi)(zhi)。兆(zhao)歐表(biao)(biao)讀數(shu)起始(shi)(shi)時間(jian)的(de)不(bu)確(que)定(ding)(ding)(ding)性(xing)，以及高(gao)壓(ya)達(da)到額定(ding)(ding)(ding)值(zhi)(zhi)時間(jian)的(de)不(bu)確(que)定(ding)(ding)(ding)性(xing)，使試(shi)品初始(shi)(shi)極化(hua)不(bu)同，也將引(yin)起示值(zhi)(zhi)間(jian)的(de)差別(bie)。
6、不同兆(zhao)歐表(biao)現場干擾的敏(min)感度和抵御能力(li)不同，對同一試(shi)品的讀測值(zhi)會存在差異。
7、數據(ju)隨(sui)機起伏的(de)常規(gui)測量誤差(cha)和兆(zhao)歐(ou)表方(fang)法誤差(cha)不同等引起示值間(jian)的(de)差(cha)異。
8、介質放(fang)電(dian)(dian)(dian)不充(chong)分(fen)(fen)是重復(fu)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)結(jie)果存(cun)在差異的(de)(de)重要(yao)原因之一。據試(shi)(shi)品充(chong)電(dian)(dian)(dian)吸收電(dian)(dian)(dian)流(liu)與(yu)其(qi)反向(xiang)放(fang)電(dian)(dian)(dian)電(dian)(dian)(dian)流(liu)對(dui)(dui)應(ying)和可(ke)逆的(de)(de)特點，若需對(dui)(dui)同(tong)(tong)一試(shi)(shi)品進行第二(er)次(ci)重復(fu)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，第一次(ci)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)結(jie)束后的(de)(de)試(shi)(shi)品短路放(fang)電(dian)(dian)(dian)間歇時間一般應(ying)長于測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)時間，以(yi)放(fang)盡(jin)所積聚的(de)(de)吸收電(dian)(dian)(dian)荷(he)量(liang)(liang)(liang)(liang)，使試(shi)(shi)品絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)介質充(chong)分(fen)(fen)恢復(fu)到原先無極化狀態，否則將影響第二(er)次(ci)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)數(shu)據的(de)(de)準確度。為(wei)使被試(shi)(shi)品上無剩余電(dian)(dian)(dian)荷(he)，每一次(ci)試(shi)(shi)驗(yan)前(qian)也(ye)應(ying)該將測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)端對(dui)(dui)地短路放(fang)電(dian)(dian)(dian)，有時甚(shen)至需時近1小時，并應(ying)拆除與(yu)無關設備(bei)間的(de)(de)聯(lian)線(xian)。總之，同(tong)(tong)一試(shi)(shi)品不同(tong)(tong)時期的(de)(de)絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)，應(ying)采(cai)用相同(tong)(tong)的(de)(de)試(shi)(shi)驗(yan)電(dian)(dian)(dian)壓等級(ji)和接線(xian)方(fang)法，并盡(jin)可(ke)能使用同(tong)(tong)一型(xing)號(hao)或性能相近的(de)(de)絕(jue)(jue)緣(yuan)(yuan)電(dian)(dian)(dian)阻表，以(yi)保(bao)證測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)(liang)數(shu)據的(de)(de)可(ke)比性。
9、最后還應(ying)特別(bie)(bie)強(qiang)調(diao)選用可調(diao)高(gao)壓數字兆(zhao)(zhao)歐表動態測(ce)量(liang)準確度較(jiao)低(di)(di)和(he)高(gao)壓測(ce)試電源容量(liang)較(jiao)低(di)(di)的儀(yi)表，由于(yu)電容充電電流尚未(wei)*衰減(jian)為零，以及儀(yi)表示(shi)值不能準確地實時跟隨(sui)試品視在(zai)絕(jue)緣電阻(zu)值的變化，讀測(ce)R15S阻(zu)值偏低(di)(di)，出現較(jiao)大誤(wu)差(cha)，導致試品吸收比(bi)測(ce)試值虛(xu)假偏高(gao)，應(ying)引起(qi)測(ce)試人員特別(bie)(bie)重視。這也可能是各種型號(hao)高(gao)壓兆(zhao)(zhao)歐表測(ce)量(liang)同一試品時吸收比(bi)讀測(ce)值存(cun)在(zai)差(cha)異的主要原因。
