在(zai)“直阻參(can)數設置"屏下“測試相(xiang)(xiang)別"項中選擇(ze)單(dan)相(xiang)(xiang)相(xiang)(xiang)別相(xiang)(xiang)后，可進(jin)行所選相(xiang)(xiang)的單(dan)相(xiang)(xiang)測量(liang)。例，選擇(ze)測量(liang)“AO"相(xiang)(xiang)（見(jian)圖四、圖五）。
圖四
圖五
按“確認"鍵(jian)，鎖定(ding)屏幕(mu)數據，可(ke)進行打印、存儲等數據操作（見圖六）。
圖六
屏幕(mu)中間(jian)顯(xian)示(shi)測量結果，底部顯(xian)示(shi)可操作菜單(dan)：
? 解鎖(suo)：解除數據鎖(suo)定(ding)，測(ce)試數據實時刷新。
? 打(da)印(yin)：將測試結果進(jin)行(xing)打(da)印(yin)。
? 存儲(chu)(chu)：將測試結果存儲(chu)(chu)到(dao)(dao)本機或存儲(chu)(chu)到(dao)(dao)優(you)盤。
? 上傳：將測(ce)試(shi)結果按設置好的藍牙參數上傳到(dao)平板手持(chi)終端。
“左右"鍵(jian)選(xuan)擇菜單項(xiang)，“確認(ren)"鍵(jian)執行當(dang)前(qian)選(xuan)項(xiang)。
此時按“取消"鍵，接觸數據鎖定，測試數據實時刷新，再次按“取消"鍵儀器將停止測試，并開始放電（見圖七），放電完成后，儀器自動返回直阻參數設置屏。
圖七
放電完成后，儀器自動返回直阻參數設置屏。2.1 對(dui)于星(xing)型接法且(qie)具有中性點(dian)引出線(xian)的(de)繞組測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)，儀器(qi)可以采取三相(xiang)同時(shi)測(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)方式(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)A0、B0、C0相(xiang)的(de)電(dian)阻(zu)，節省(sheng)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)時(shi)間。且(qie)先測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)A0相(xiang)的(de)數據(ju)，再三相(xiang)同時(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)，解(jie)決了三相(xiang)同時(shi)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)時(shi)中性點(dian)引出線(xian)電(dian)阻(zu)不能測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)的(de)問題，使測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)數據(ju)更接近單相(xiang)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)值。
對于(yu)Y型和△型的繞組測試(shi)，儀(yi)器可進行(xing)三相自動(dong)測試(shi)，并折算出三相不平衡率(lv)。
具有(you)助(zhu)磁(ci)法測(ce)試和消(xiao)磁(ci)功能，滿足(zu)現(xian)場試驗多種需求(qiu)。
具有反電動勢保(bao)護(hu)(hu)、斷線保(bao)護(hu)(hu)、斷電保(bao)護(hu)(hu)等(deng)多種保(bao)護(hu)(hu)功能。
測量(liang)范(fan)圍寬，最高可達200Ω，精度高。
不(bu)掉電時鐘和日(ri)期顯示；數據存(cun)儲方式分為本(ben)機(ji)存(cun)儲和優盤存(cun)儲，其中本(ben)機(ji)存(cun)儲可存(cun)儲測試(shi)數據200條；優盤存(cun)儲數據格(ge)式為Word格(ge)式，可直接在電腦(nao)上編輯打印。
