CT伏安特性低頻法測試原理
IEC60044-6標準(對應國(guo)家標準GB16847-1977)聲稱,CT的測試(shi)可以在比額定頻率低的情況下進行,避免繞(rao)組和二次端(duan)子承受不能容許的電壓。
CT伏安特(te)性測(ce)試儀測(ce)量(liang)的(de)(de)原(yuan)理電路如下(xia)圖:CT一次(ci)側(ce)開路,從二次(ci)側(ce)施加電壓,測(ce)量(liang)所加電壓V與(yu)輸入電流I的(de)(de)關(guan)(guan)系曲線。此曲線近似CT的(de)(de)勵(li)磁(ci)電勢(shi)E與(yu)勵(li)磁(ci)電流I的(de)(de)關(guan)(guan)系曲線。
設CT勵磁繞組在某一勵磁電流I時的激磁電感為L,激磁阻抗為Z,則:
V = I·Z
電感L與(yu)阻抗Z之間具有下述關系:
Z = ω·L = 2 π f L
則:V= I·2 π f L
由公式(shi)中可見在某一激磁電(dian)感L時所加電(dian)壓V與(yu)頻率f成(cheng)正(zheng)比關系。
假設當f = 50Hz時,為(wei)達到(dao)勵磁電流Ix,所需施加的電壓Vx為(wei)2000V
Vx = Ix·2 π f L = 2000V,
若施加不同頻率:
f = 50Hz,Vx = 2000V
f = 5Hz, Vx ≌ 200V
f = 0.5Hz,Vx ≌ 20V參數
由此可(ke)見(jian)需要使CT進入相(xiang)同飽和程(cheng)度,施加(jia)較低頻(pin)率信號所(suo)需電壓可(ke)以大幅度降低這就(jiu)是變頻(pin)法的基(ji)本原理。
在(zai)此必須嚴(yan)格(ge)注意,所需電壓并(bing)非與頻率呈線(xian)性比例關(guan)系,并(bing)非隨著頻率等比例降低,需要嚴(yan)格(ge)按照互感(gan)器的(de)精確(que)數學模型進行完整(zheng)的(de)理論計(ji)算。參數參數參數
變頻互感(gan)器測試儀用(yong)途CT, PT輸出0~180Vrms,12Arms,36A(峰(feng)值)電(dian)(dian)壓測量(liang)(liang)精(jing)(jing)度(du)(du)±0.1%CT變比(bi) 測量(liang)(liang)范圍1~40000精(jing)(jing)度(du)(du)±0.05%PT變比(bi) 測量(liang)(liang)范圍1~40000精(jing)(jing)度(du)(du)±0.05%相位測量(liang)(liang)精(jing)(jing)度(du)(du)±2min分辨率0.5min二次(ci)繞組電(dian)(dian)阻測量(liang)(liang)范圍0~300Ω精(jing)(jing)度(du)(du)0.2%±2mΩ交(jiao)流(liu)負載(zai)測量(liang)(liang)范圍0~1000VA精(jing)(jing)度(du)(du)0.2%±0.02VA輸入電(dian)(dian)源電(dian)(dian)壓AC220V±10%,50Hz工作(zuo)環(huan)境 溫度(du)(du):-10οC~50οC, 濕度(du)(du):≤90%尺(chi)寸(cun)、重(zhong)量(liang)(liang)尺(chi)寸(cun)365 mm×290 mm×153mm 重(zhong)量(liang)(liang)<10kg