可以(yi)(yi)(yi)分(fen)為(wei)電路(lu)及裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)(yan)。溫(wen)(wen)升(sheng)(sheng)試(shi)驗(yan)(yan)是(shi)驗(yan)(yan)證設(she)(she)(she)備(bei)(bei)在正(zheng)(zheng)常(chang)(chang)使用(yong)(yong)條件下(xia)，通以(yi)(yi)(yi)額(e)(e)定(ding)(ding)電流(liu)，各部分(fen)的(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)升(sheng)(sheng)值應(ying)(ying)符合有關標準的(de)(de)(de)(de)規(gui)定(ding)(ding)。裝(zhuang)(zhuang)在裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)(zhi)內部的(de)(de)(de)(de)操作(zuo)手柄(bing)，其溫(wen)(wen)升(sheng)(sheng)允許(xu)略高些(xie)(xie)。除非(fei)另(ling)有規(gui)定(ding)(ding)，對可以(yi)(yi)(yi)接觸但正(zheng)(zheng)常(chang)(chang)工作(zuo)時不需觸及的(de)(de)(de)(de)外殼和(he)覆(fu)板(ban)，允許(xu)其溫(wen)(wen)升(sheng)(sheng)提高10K。設(she)(she)(she)備(bei)(bei)按正(zheng)(zheng)常(chang)(chang)使用(yong)(yong)情(qing)況(kuang)放置(zhi)(zhi)，門、鎘板(ban)、覆(fu)板(ban)、蓋板(ban)都(dou)應(ying)(ying)裝(zhuang)(zhuang)好。試(shi)驗(yan)(yan)方(fang)案應(ying)(ying)選擇損耗最大的(de)(de)(de)(de)方(fang)案。進(jin)(jin)行(xing)單獨電路(lu)的(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)升(sheng)(sheng)試(shi)驗(yan)(yan)時，電路(lu)應(ying)(ying)通以(yi)(yi)(yi)設(she)(she)(she)計規(gui)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)(de)額(e)(e)定(ding)(ding)工作(zuo)電流(liu)。進(jin)(jin)行(xing)裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)(zhi)的(de)(de)(de)(de)溫(wen)(wen)升(sheng)(sheng)試(shi)驗(yan)(yan)時，在考(kao)慮了額(e)(e)定(ding)(ding)分(fen)散(san)系數后，應(ying)(ying)選擇一個或幾(ji)個有代表(biao)性的(de)(de)(de)(de)并能獲(huo)得高溫(wen)(wen)升(sheng)(sheng)的(de)(de)(de)(de)電路(lu)，給這些(xie)(xie)電路(lu)通以(yi)(yi)(yi)各自設(she)(she)(she)計規(gui)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)(de)額(e)(e)定(ding)(ding)工作(zuo)電流(liu)。試(shi)驗(yan)(yan)時輔(fu)助(zhu)電路(lu)(包(bao)括繼電器、接觸器、脫扣器的(de)(de)(de)(de)線圈)應(ying)(ying)加上設(she)(she)(she)計規(gui)定(ding)(ding)的(de)(de)(de)(de)額(e)(e)定(ding)(ding)工作(zuo)電壓。裝(zhuang)(zhuang)置(zhi)(zhi)中如(ru)果包(bao)含有熔斷器，試(shi)驗(yan)(yan)時應(ying)(ying)裝(zhuang)(zhuang)上適(shi)合于試(shi)驗(yan)(yan)的(de)(de)(de)(de)熔體(由制造廠規(gui)定(ding)(ding))。熔體的(de)(de)(de)(de)功率損耗、試(shi)驗(yan)(yan)中所用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)外接導體(導線)尺寸和(he)布(bu)置(zhi)(zhi)情(qing)況(kuang)應(ying)(ying)寫入試(shi)驗(yan)(yan)報告中。
開關柜通電測試臺/高低壓通電測試儀測量部位包括：
(1)母(mu)線連(lian)接處以及其他元器件與母(mu)線的(de)連(lian)接處。
(2)抽屜式設備(bei)的母(mu)線(xian)室、功能(neng)單元室和電纜室的空間(jian)。
(3)可(ke)觸及(ji)的門、手柄(bing)和覆板。
以(yi)上(shang)三種部位均應盡量選(xuan)產生溫(wen)(wen)升(sheng)高點(dian)進行(xing)測量。當溫(wen)(wen)度(du)變化不超過(guo)1℃／h時，則(ze)(ze)可(ke)記錄其溫(wen)(wen)升(sheng)值。其值應不超過(guo)有(you)關標準的規(gui)定值。裝置(zhi)內(nei)絕緣沒有(you)破壞，元器件在(zai)設備內(nei)的溫(wen)(wen)度(du)條件下正常工(gong)作，則(ze)(ze)溫(wen)(wen)升(sheng)試驗合(he)格。
本公司生產的(de)開關(guan)柜通電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)臺(tai).通電(dian)(dian)(dian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀介電(dian)(dian)(dian)性能試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)應根(gen)據各回路(lu)額定絕緣電(dian)(dian)(dian)壓(ya)分別(bie)進行試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)。應將(jiang)那些不能耐受這種試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)電(dian)(dian)(dian)器(qi)元件(jian)(如電(dian)(dian)(dian)子設備、電(dian)(dian)(dian)容器(qi)等)從(cong)電(dian)(dian)(dian)路(lu)中拆除。 施加試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)的(de)時間和(he)方(fang)法：出廠試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)為1s點(dian)試(shi)(shi)(shi)。型式試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)為1min，施加電(dian)(dian)(dian)壓(ya)從(cong)30%～50%的(de)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)開始，約5s升到規(gui)定值(zhi)。1min后(hou)將(jiang)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)逐(zhu)漸降到零。
如(ru)果設備已經過一次(ci)耐壓(ya)試(shi)驗(yan)，而需再試(shi)驗(yan)時，電壓(ya)應降到規定值的85%，試(shi)驗(yan)時間為11s。
