產品名稱:變頻抗干擾(rao)介(jie)質損耗測(ce)量儀(yi)0.2級
產品型號:
產品報價:13700
產品特點:變頻抗(kang)干擾介質(zhi)損(sun)(sun)耗測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)儀0.2級通過(guo)測(ce)(ce)量(liang)(liang)(liang)電路(lu)分別測(ce)(ce)得標準回(hui)路(lu)電流(liu)與被試回(hui)路(lu)電流(liu)幅值(zhi)(zhi)及其相位差(cha),再由(you)數字信號處理器(qi)運用數字化(hua)實時(shi)采集方法,通過(guo)矢量(liang)(liang)(liang)運算(suan)得出試品的電容值(zhi)(zhi)和介質(zhi)損(sun)(sun)耗正切值(zhi)(zhi)。
變頻抗干擾介質損耗測量儀0.2級的詳細資料:
概(gai) 述
HTJSY-B變(bian)(bian)頻介質損(sun)耗測試儀(yi)是發(fa)電廠(chang)、變(bian)(bian)電站等現場或實驗室測試各種(zhong)高(gao)壓(ya)電力設備介損(sun)正(zheng)切(qie)值(zhi)及電容量的(de)高(gao)精度測試儀(yi)器(qi)。測試高(gao)壓(ya)源(yuan)由儀(yi)器(qi)內部的(de)逆(ni)變(bian)(bian)器(qi)產生(sheng),經變(bian)(bian)壓(ya)器(qi)升壓(ya)后(hou)用于被試品測試。
變頻抗干擾介質損耗測量儀0.2級測(ce)(ce)試(shi)(shi)高(gao)壓(ya)源由儀(yi)器(qi)(qi)內部(bu)的逆(ni)變(bian)器(qi)(qi)產生(sheng),經變(bian)壓(ya)器(qi)(qi)升壓(ya)后用(yong)于被試(shi)(shi)品測(ce)(ce)試(shi)(shi)。頻(pin)(pin)率可(ke)變(bian)為50Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz,采用(yong)數字陷波技(ji)術(shu),避開了(le)工(gong)頻(pin)(pin)電(dian)場(chang)對測(ce)(ce)試(shi)(shi)的干擾(rao),從根(gen)本上解(jie)決了(le)強電(dian)場(chang)干擾(rao)下準確測(ce)(ce)量的難題。同時適用(yong)于全部(bu)停(ting)電(dian)后用(yong)發電(dian)機供電(dian)檢測(ce)(ce)的場(chang)合(he)。該儀(yi)器(qi)(qi)配以絕緣(yuan)油杯加溫控裝置可(ke)測(ce)(ce)試(shi)(shi)絕緣(yuan)油介質損耗。
儀器主(zhu)要(yao)具有如下特點:
l 超大液晶(jing)中文顯(xian)示
操作(zuo)(zuo)簡單,儀器配備了的(de)全觸摸液(ye)晶顯(xian)示屏(ping),超大全觸摸操作(zuo)(zuo)界面,每過(guo)程都(dou)非常(chang)清晰明了,操作(zuo)(zuo)人員不需要額外的(de)專業培訓就能使用。輕輕點擊一下就能完成整個過(guo)程的(de)測量,是目前理想的(de)智能型介損測量設備。
l 海量存儲數據
儀器變頻抗干擾介質損耗測量儀0.2級內部(bu)配備有(you)日歷芯(xin)片和大(da)容量存儲器,保(bao)存數據200組,能將(jiang)檢測(ce)結果(guo)按(an)時(shi)間(jian)順序保(bao)存,隨(sui)時(shi)可(ke)以查看歷史記錄,并(bing)可(ke)以打印輸出。
l 科學*的數(shu)據(ju)管理(li)
儀器(qi)數據(ju)(ju)可(ke)以(yi)通過U盤導出(chu),可(ke)在任意(yi)一臺PC機上通過我公(gong)司(si)軟件,查看(kan)和管理數據(ju)(ju)。
l 多種測試模式
儀器能夠分別(bie)使用內(nei)高(gao)(gao)壓(ya)、外高(gao)(gao)壓(ya)、內(nei)標準、外標準、正接法(fa)、反接法(fa)、自激(ji)法(fa)等(deng)多種方式測試(shi);在外標準外高(gao)(gao)壓(ya)情(qing)況下(xia)可以做高(gao)(gao)電壓(ya)(大(da)于(yu)10kV)介質損耗。
l CVT測試一步到位
該(gai)儀器還可以測(ce)(ce)試全密封(feng)的(de)CVT(電(dian)容式電(dian)壓(ya)互感器)C1、C2的(de)介損和(he)電(dian)容量,實現了C1、C2的(de)同時測(ce)(ce)試。該(gai)儀器還可以測(ce)(ce)試CVT變比和(he)電(dian)壓(ya)角差。
l 不拆(chai)高壓(ya)引線測量CVT
儀器可在不拆(chai)除CVT高壓引(yin)線的(de)情況(kuang)下正確測量CVT的(de)介質(zhi)損耗值(zhi)和電容值(zhi)。
l CVT反接(jie)屏蔽法測量(liang)C0
儀(yi)器可采用反(fan)接(jie)屏蔽(bi)法測量CVT上(shang)端C0的介(jie)質(zhi)損耗值和電容(rong)值。
l 高速采樣信號
儀(yi)器(qi)內(nei)部的逆(ni)變器(qi)和采樣(yang)電(dian)路全部由數字化(hua)控制,輸出(chu)電(dian)壓(ya)連續可調。
二 工(gong)作原(yuan)理
測量(liang)線路(lu)由(you)取樣電(dian)阻與前置放大器(qi)和A/D轉換器(qi)組成。通過測量(liang)電(dian)路(lu)分別測得(de)標準回路(lu)電(dian)流與被試(shi)回路(lu)電(dian)流幅值及其(qi)相位差(cha),再由(you)數字(zi)信(xin)號處理器(qi)運用數字(zi)化實時采集方法,通過矢量(liang)運算得(de)出(chu)試(shi)品的電(dian)容值和介質損耗正切值。儀器(qi)內(nei)部(bu)已經(jing)采用了抗干擾措(cuo)施,保證在外電(dian)場(chang)干擾下(xia)準確測量(liang)。
介質(zhi)損耗測試(shi)儀 (體積小、重量輕)
三 主要技(ji)術參(can)數
1使用條件
-15℃∽40℃
RH<80%
2
抗干擾原理
變頻法
3
電 源
AC 220V±10%
允許發電機
4
高壓輸出
0.5KV∽10KV
每隔0.1kV
精 度2%
大電流(liu) 200mA
容 量(liang)
2000VA
5
自激電源
AC 0V∽50V/15A
50HZ、60HZ單頻
45HZ/55HZ 47.5HZ/52.5HZ
55HZ/65HZ 57.5HZ/62.5HZ
自動雙變頻
6
分 辨 率
tgδ: 0.001%
Cx: 0.001pF
7
精 度
△tgδ:±(讀數(shu)*1.0%+0.040%)
△C x :±(讀數(shu)*1.0%+1.00PF)
8
測量范圍
tgδ
無限制
C x
15pF< Cx < 300nF
10KV
Cx< 60 nF
5KV
Cx< 150 nF
1KV
Cx< 300 nF
CVT測試
Cx< 300 nF
9
CVT變比范圍
10∽10000
CVT變比精度
0.1%
CVT變比分辨率
0.01
10
外型尺寸(主機)(mm)
350(L)×270(W)×270(H)
外型尺寸(cun)(附件箱)(mm)
350(L)×270(W)×160(H)
11
存儲器大小200組 支持U盤數據存儲
三.變頻抗干擾介(jie)質(zhi)損耗測試儀
在交流電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)作用(yong)下(xia),電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質要消耗(hao)部分電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng),這部分電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)能(neng)將轉變為(wei)熱能(neng)產生損(sun)耗(hao)。這種(zhong)能(neng)量(liang)(liang)(liang)損(sun)耗(hao)叫做(zuo)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質的損(sun)耗(hao)。當(dang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質上施加交流電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)時,電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質中的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)和(he)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流間成在相角(jiao)差ψ,ψ的余角(jiao)δ稱(cheng)為(wei)介(jie)質損(sun)耗(hao)角(jiao),δ的正切(qie)(qie)tgδ稱(cheng)為(wei)介(jie)質損(sun)耗(hao)角(jiao)正切(qie)(qie)。tgδ值(zhi)是(shi)用(yong)來衡量(liang)(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)介(jie)質損(sun)耗(hao)的參數。儀器測(ce)量(liang)(liang)(liang)線(xian)(xian)路(lu)包括一標(biao)準(zhun)(zhun)回(hui)(hui)(hui)路(lu)(Cn)和(he)一被(bei)試(shi)(shi)回(hui)(hui)(hui)路(lu)(Cx),如(ru)圖2所示。標(biao)準(zhun)(zhun)回(hui)(hui)(hui)路(lu)由內(nei)(nei)置高穩定度標(biao)準(zhun)(zhun)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容器與測(ce)量(liang)(liang)(liang)線(xian)(xian)路(lu)組成,被(bei)試(shi)(shi)回(hui)(hui)(hui)路(lu)由被(bei)試(shi)(shi)品和(he)測(ce)量(liang)(liang)(liang)線(xian)(xian)路(lu)組成。測(ce)量(liang)(liang)(liang)線(xian)(xian)路(lu)由取樣(yang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)阻與前置放大器和(he)A/D轉換器組成。通過測(ce)量(liang)(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)分別測(ce)得(de)標(biao)準(zhun)(zhun)回(hui)(hui)(hui)路(lu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流與被(bei)試(shi)(shi)回(hui)(hui)(hui)路(lu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)流幅值(zhi)及其相位(wei)差,再由數字信號處理器運用(yong)數字化實時采(cai)集方法,通過矢量(liang)(liang)(liang)運算得(de)出試(shi)(shi)品的電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)容值(zhi)和(he)介(jie)質損(sun)耗(hao)正切(qie)(qie)值(zhi)。儀器內(nei)(nei)部已經采(cai)用(yong)了抗(kang)干擾(rao)(rao)措施,保證在外(wai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場干擾(rao)(rao)下(xia)準(zhun)(zhun)確(que)測(ce)量(liang)(liang)(liang)。
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