異頻介質損耗測試儀儀器結構
點擊次數：910 更新時間：2020-08-09
儀器異(yi)頻介質損(sun)耗測試儀結構：
測量電路:傅立葉(xie)變換(huan)、復數(shu)運算等(deng)全(quan)部計算和(he)量程切換(huan)、變頻電源控制等(deng)。
控制面板:打(da)印機(ji)、鍵盤、顯示和通訊中轉。
變(bian)頻電源(yuan):采用SPWM開關(guan)電路產生大(da)功率正(zheng)弦(xian)波穩壓輸出。
異頻(pin)介(jie)質(zhi)損耗(hao)測試(shi)儀升壓變壓器(qi):將變頻電(dian)源(yuan)輸(shu)(shu)出升壓到測量電(dian)壓，大無功(gong)輸(shu)(shu)出2KVA/1分鐘(zhong)。
標(biao)準電容器:內Cn，測量基準。
Cn電流檢測:用于檢測內標準電容器電流，10μA~1A。輸入電阻<2Ω。
Cx正接線電流檢測:只用于正接線測量，10μA~1A。輸入電阻<2Ω。
Cx反接線電流檢測:只用于反接線測量，10μA~1A。輸入電阻<2Ω。
反接(jie)線數(shu)字(zi)隔離通訊:采(cai)用精(jing)密MPPM數(shu)字(zi)調制解調器(qi)，將反接(jie)線電流信號。
